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日本電子IT210 掃描電鏡

JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)使得操作更安心和快速；而且因?yàn)檠b有“Simple SEM”，只需選好微區(qū)就能自動(dòng)觀察和分析。JSM-IT210 掃...
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掃描電鏡價(jià)格

JSM-IT210 InTouchScope™ 掃描電鏡價(jià)格不僅是開展科研工作所不可少的工具，對(duì)于需要品控的制造工廠也是*。在這些場景中，用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這些...
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JNM-ECZS 系列核磁共振譜儀

JNM-ECZS 系列核磁共振譜儀不僅具有高性能，還進(jìn)一步實(shí)現(xiàn)了譜儀的小型化。高級(jí)軟件和自動(dòng)化技術(shù)，使常規(guī)測試全部實(shí)現(xiàn)了自動(dòng)化。超高靈敏度自動(dòng)調(diào)諧探頭包括了SuperCOOL探頭（選配件）等超低溫...
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JNM-ECZL 系列核磁共振譜儀

JNM-ECZL 系列核磁共振譜儀是配備先進(jìn)數(shù)字和高頻技術(shù)的核磁共振波譜儀。高度集成的STS（智能收發(fā)系統(tǒng)）采用高速、高精度數(shù)字高頻控制電路，實(shí)現(xiàn)了譜儀的進(jìn)一步微型化和高可靠性。它能夠進(jìn)行高磁場和固...
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液氮液氦回收系統(tǒng)

液氮液氦回收系統(tǒng)是一種能夠大幅抑制NMR超導(dǎo)磁體中液氦、液氮蒸發(fā)的裝置。這有助于減少NMR設(shè)備管理中制冷劑的相關(guān)問題，例如在定期的制冷劑再填充中調(diào)整測量日程，以及擔(dān)心制冷劑供應(yīng)不穩(wěn)定等。
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JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀

JSX-1000S 能量色散型X射線熒光分析儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規(guī)定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等。　利用豐富的硬件/軟件選配件、還能進(jìn)行更...
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雙束加工觀察系統(tǒng)

隨著先進(jìn)材料構(gòu)造的微細(xì)化和制造過程的復(fù)雜化，形貌觀察、元素分析和晶體分析等的評(píng)估技術(shù)也對(duì)分辨率和精度有了更高的要求。為了滿足這些需求，JEOL推出新一代雙束加工觀察系統(tǒng)JIB-4700F。
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JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)

JIB-4000PLUS 聚焦離子束加工觀察系統(tǒng)配置了高性能的離子鏡筒(單束FIB裝置)。被加速的鎵離子束經(jīng)聚焦照射樣品后，能對(duì)樣品表面進(jìn)行SIM觀察、研磨、及碳和鎢等沉積。還可以為TEM制備薄膜...
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JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀

JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀在保持高局部微量元素分析性能的同時(shí)，追求每個(gè)人都能簡單快速地使用好儀器。該儀器能更加有效地進(jìn)行觀察分析和操作，是更先進(jìn)的一體化集成FE-EPMA。
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CP截面樣品制備裝置

IB-19520CCP截面樣品制備裝置在加工過程中利用液氮冷卻，能減輕離子束對(duì)樣品造成的熱損傷。冷卻持續(xù)時(shí)間長、液氮消耗少的構(gòu)造設(shè)計(jì)。在裝有液氮的情況下，也能將樣品快速冷卻、恢復(fù)到室溫，并且可以拆卸。...
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IB-19530CP截面樣品制備裝置

IB-19530CP截面樣品制備裝置為了滿足市場多樣化的需求，IB-19530CP截面拋光儀采用多用途樣品臺(tái)，通過交換各種功能性樣品座實(shí)現(xiàn)了功能的多樣化。
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離子切片儀

EM-09100IS 離子切片儀用于TEM 、STEM 、 SEM 、 EPMA 和 AUGER樣品制備的創(chuàng)新方法離子切片儀制備薄膜樣品比傳統(tǒng)制備工具快速、簡單。低能量、低角度（0°到6&...
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產(chǎn)品展示

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0512-63022732

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日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析

日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。 ...
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熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡

JSM-IT710HR 熱場發(fā)射掃描電子顯微鏡清晰的可見性促進(jìn)新發(fā)現(xiàn)！目前，除了納米級(jí)的分辨率和分析性能外，數(shù)據(jù)采集的處理能力也被認(rèn)為是重要的。JSM-IT710HR是JEOL 以 “任何人都能輕...
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日本電子IT210 掃描電鏡

JSM-IT210 掃描電鏡是日本電子制造的最小巧的落地型掃描電子顯微鏡。5軸馬達(dá)驅(qū)動(dòng)使得操作更安心和快速；而且因?yàn)檠b有“Simple SEM”，只需選好微區(qū)就能自動(dòng)觀察和分析。JSM-IT210 掃...
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ROHS金屬成分分析儀

ROHS金屬成分分析儀(SXES :Soft X-Ray Emission Spectrometer)通過組合新開發(fā)的衍射光柵和高靈敏度Ｘ射線CCD相機(jī)，實(shí)現(xiàn)了高的能量分辨率。和EDS一樣可以并行檢...
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日本電子SEM

JSM-IT510 InTouchScope™ 日本電子SEM不僅是開展科研工作所不可少的工具，對(duì)于需要品控的制造工廠也是*。在這些場景中，用戶需要重復(fù)執(zhí)行相同的觀察操作，因此快速完成這...
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日本電子掃描電鏡

JSM-IT200 InTouchScope™ 日本電子掃描電鏡是一款更簡潔、更易于使用且性價(jià)比高的掃描電子顯微鏡。
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About us

賽非特科學(xué)儀器（蘇州）有限公司

關(guān)于賽非特賽非特公司主要是一家專門從事進(jìn)口儀器設(shè)備銷售公司。主要服務(wù)于華東，華中，華南地區(qū)形成了一個(gè)覆蓋中國沿海地區(qū)，并延伸至內(nèi)地的銷售網(wǎng)絡(luò)。我們服務(wù)項(xiàng)目包含儀器銷售，維修，安裝，儀器校準(zhǔn)，保養(yǎng)等，是一加集進(jìn)口，銷售，安裝，服務(wù)一體的進(jìn)口儀器銷售公司，公司秉承“技術(shù)至上，服務(wù)進(jìn)取”的經(jīng)營理念，堅(jiān)持“客戶第一”的原則為廣大客戶提供優(yōu)質(zhì)的服務(wù)。歡迎廣大客戶惠顧！賽非特公司主要合作品牌有：賽默飛世爾THERMOFISHER,安捷倫AGILENT,島津SHIMADZU,日本電子JEOL,牛津儀器Oxford,日本尼康NIKON等品牌產(chǎn)品。主要銷售產(chǎn)品為各式液相色譜，氣相色譜，光譜儀，質(zhì)譜儀，光學(xué)顯微鏡，掃描電鏡，X光檢查機(jī)，x光熒光分析儀等相關(guān)儀器。賽非特客戶群為電子行業(yè)，鋼鐵行業(yè)，礦產(chǎn)，生物，醫(yī)療，材料等各種領(lǐng)域。為客戶提供優(yōu)良的解決方案及優(yōu)秀的服務(wù)，用自身技術(shù)協(xié)助解決用戶的現(xiàn)實(shí)問題。歡迎廣大客戶來電指導(dǎo)，共同學(xué)習(xí)探討。

2014年
成立時(shí)間
2200萬
注冊(cè)資金
365天
用心服務(wù)

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新聞中心

2024
11-18

低溫冷凍離子切片儀幫助科研人員揭示細(xì)胞的形態(tài)、結(jié)構(gòu)和功能
在現(xiàn)代科學(xué)研究的廣闊領(lǐng)域中，低溫冷凍離子切片儀作為一種高精度的科研設(shè)備，正扮演著舉足輕重的角色。它不僅能夠處理易受熱損傷的樣品，還能方便地制作出薄膜樣品和截面樣品，為科研人員提供了便利與精準(zhǔn)。低溫冷凍離子切片儀的核心優(yōu)勢在于其出色的冷卻系統(tǒng)。通過液氮制冷，儀器能夠大大減輕離子照射時(shí)對(duì)樣品造成的熱損傷，同時(shí)冷卻保持時(shí)間長，有效地延長了樣品的穩(wěn)定狀態(tài)。這種特性使得對(duì)溫度敏感的生物組織、細(xì)胞等樣品在切片過程中得以保持其原始結(jié)構(gòu)，從而確保了切片數(shù)據(jù)的準(zhǔn)確性和可靠性。在具體操作層面，低...
2024
10-23

ROHS金屬成分分析儀助力企業(yè)精準(zhǔn)識(shí)別與管控有害物質(zhì)
在當(dāng)今的全球化市場中，企業(yè)不僅要追求產(chǎn)品質(zhì)量與技術(shù)創(chuàng)新，還需嚴(yán)格遵守各項(xiàng)環(huán)保法規(guī)，以確保產(chǎn)品的安全性與環(huán)保性。ROHS金屬成分分析儀作為一種高效、精確的檢測工具。ROHS金屬成分分析儀依據(jù)歐盟ROHS指令設(shè)計(jì)，專門用于檢測電子產(chǎn)品中的六種有害物質(zhì)：鉛（Pb）、鎘（Cd）、汞（Hg）、六價(jià)鉻（Cr6+）、多溴聯(lián)苯（PBB）和多溴二苯醚（PBDE）。這些物質(zhì)對(duì)人體健康和環(huán)境具有潛在危害，因此ROHS指令對(duì)它們?cè)陔娮赢a(chǎn)品中的含量進(jìn)行了嚴(yán)格限制。ROHS分析儀通過先進(jìn)的X射線熒光光譜...
2024
9-23

提升材料研究深度：截面拋光儀在失效分析與微觀結(jié)構(gòu)觀察中的關(guān)鍵作用
在材料科學(xué)研究的廣闊領(lǐng)域中，深入理解材料的微觀結(jié)構(gòu)和失效機(jī)制是提升材料性能、延長使用壽命的關(guān)鍵。截面拋光儀作為先進(jìn)的材料制備工具，在失效分析與微觀結(jié)構(gòu)觀察中發(fā)揮著不可替代的作用，極大地提升了材料研究的深度和精度。精準(zhǔn)制備，暴露內(nèi)部結(jié)構(gòu)截面拋光儀利用氬離子束等先進(jìn)技術(shù)，對(duì)材料樣品進(jìn)行高精度的切割和拋光，能夠在不破壞樣品原有結(jié)構(gòu)的前提下，暴露出材料的內(nèi)部截面。這種無應(yīng)力、無損傷的制樣方式，為后續(xù)的微觀結(jié)構(gòu)觀察提供了高質(zhì)量的樣品，確保了分析結(jié)果的準(zhǔn)確性和可靠性。通過截面拋光儀的處理...
2024
8-19

臺(tái)式掃描電子顯微鏡成為了科研人員的得力助手
在探索微觀世界的無盡旅程中，臺(tái)式掃描電子顯微鏡以其成像能力成為了科研人員的得力助手。這種設(shè)備雖小巧便攜，卻擁有與傳統(tǒng)大型掃描電鏡相媲美的性能，讓納米級(jí)別的物質(zhì)結(jié)構(gòu)分析變得觸手可及。臺(tái)式掃描電子顯微鏡的核心在于其創(chuàng)新的設(shè)計(jì)理念。它摒棄了龐大而復(fù)雜的框架，采用了緊湊輕巧的結(jié)構(gòu)布局，不僅節(jié)約了實(shí)驗(yàn)室寶貴的空間資源，更降低了對(duì)環(huán)境條件的苛刻要求。這意味著研究者不必在專門的實(shí)驗(yàn)室內(nèi)即可進(jìn)行高分辨率的樣品觀察，極大地提高了工作效率與研究便捷性。在性能方面，臺(tái)式掃描電子顯微鏡并不因其體積的...
2024
7-24

微觀世界的探索者：掃描電子顯微鏡的奇幻之旅
在浩瀚的科學(xué)探索征途中，有這樣一位精密的“zhen探”，它以其非凡的視力，穿梭于肉眼無法觸及的微觀宇宙，揭開了一個(gè)又一個(gè)自然界的秘密——它，就是掃描電子顯微鏡（ScanningElectronMicroscope，簡稱SEM）。這是一場跨越尺度的奇幻之旅，讓我們一同走進(jìn)這場微觀世界的壯麗探險(xiǎn)。納米世界的門戶掃描電子顯微鏡，作為現(xiàn)代材料科學(xué)與生物學(xué)研究重要的工具，仿佛是通往納米世界的神秘門戶。不同于傳統(tǒng)光學(xué)顯微鏡受限于光的波長，SEM利用聚焦的高能電子束作為“光源”，這些電子在...
2024
7-16

微觀世界的鎢光探索者：鎢燈絲掃描電子顯微鏡的奧秘之旅
在探索微觀世界的征途中，有這樣一位“探險(xiǎn)家”——鎢燈絲掃描電子顯微鏡它以鎢燈絲為光源，照亮并揭示了物質(zhì)表面的萬千細(xì)節(jié)，領(lǐng)我們走進(jìn)一個(gè)微觀奇觀。鎢燈絲：照亮微觀世界的明燈作為TF-SEM的核心部件之一，鎢燈絲以其高熔點(diǎn)、強(qiáng)韌性和穩(wěn)定的電子發(fā)射性能，成為發(fā)射電子束的理想選擇。在高壓作用下，鎢燈絲釋放出密集而穩(wěn)定的電子束，這些電子束經(jīng)過加速和聚焦后，以極細(xì)的束斑掃描樣品表面。這一過程，就像是用一束極細(xì)的光線在微觀世界中“繪畫”，每一筆都精準(zhǔn)地勾勒出樣品的形貌與結(jié)構(gòu)。掃描之舞：揭秘微...

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技術(shù)文章

SEM掃描電鏡：原理、操作與樣品制備全攻略

SEM（掃描電鏡）是一種利用聚焦電子束在試樣表面逐點(diǎn)掃描成像的技術(shù)，其工作原理類似于閉路電視系統(tǒng)。電子束由三極電子槍發(fā)射，經(jīng)過加速電壓和多個(gè)電子透鏡聚焦后，按順序逐行掃描樣品表面，激發(fā)樣品產(chǎn)生二次電子、背散射電子等物理信號(hào)。這些信號(hào)被收集器接收并放大后，送到顯像管上形成與樣品表面特征相對(duì)應(yīng)的畫面。在操作SEM時(shí)，首先需要確保設(shè)備及其附屬設(shè)備（如真空系統(tǒng)、冷卻系統(tǒng)）處于正常工作狀態(tài)，并進(jìn)行預(yù)熱。然后，將準(zhǔn)備好的樣品放置在樣品臺(tái)上，關(guān)閉真空腔并啟動(dòng)真空泵進(jìn)行抽真空。接下來，根據(jù)樣...

2025-1-17
電子顯微鏡在半導(dǎo)體工業(yè)中的應(yīng)用與挑戰(zhàn)

電子顯微鏡作為半導(dǎo)體工業(yè)中的工具，發(fā)揮著至關(guān)重要的作用。其高分辨率成像能力使得研究人員能夠深入到納米級(jí)別，精確檢測和分析半導(dǎo)體材料中的各種微觀結(jié)構(gòu)和缺陷。在半導(dǎo)體制造過程中，電子顯微鏡被廣泛應(yīng)用于質(zhì)量檢測、結(jié)構(gòu)分析、失效分析和能譜分析等環(huán)節(jié)。通過電子顯微鏡，研究人員可以觀察到半導(dǎo)體芯片和封裝材料的內(nèi)部結(jié)構(gòu)，檢測出其中的缺陷、裂紋、氣泡等微觀結(jié)構(gòu)問題，確保產(chǎn)品的質(zhì)量和可靠性。同時(shí)，電子顯微鏡還可以對(duì)半導(dǎo)體材料進(jìn)行元素分析，確定材料中的元素含量和化學(xué)狀態(tài)，為材料研發(fā)和工藝控制提供...

2024-12-2
TEM斷層掃描系統(tǒng)為材料的性能提升與失效分析提供了寶貴的依據(jù)

TEM斷層掃描系統(tǒng)是結(jié)合了透射電子顯微鏡的高分辨率成像能力與斷層掃描技術(shù)的三維重構(gòu)能力。這一組合使得科學(xué)家們能夠以精度，對(duì)微小樣品進(jìn)行逐層掃描，進(jìn)而構(gòu)建出其在三維空間中的完整結(jié)構(gòu)。這一技術(shù)的出現(xiàn)，無疑為材料科學(xué)、生物學(xué)、醫(yī)學(xué)等多個(gè)領(lǐng)域的研究開辟了新的道路。在材料科學(xué)領(lǐng)域，TEM斷層掃描系統(tǒng)為納米材料的研發(fā)提供了強(qiáng)有力的支持。通過精確測量納米顆粒的形狀、尺寸以及分布，科學(xué)家們能夠更深入地理解材料的性能與結(jié)構(gòu)之間的關(guān)系，從而指導(dǎo)新材料的合成與優(yōu)化。此外，該技術(shù)還能揭示材料在微觀尺...

2024-11-15
探索微觀世界：SEM掃描電鏡在材料科學(xué)中的應(yīng)用

SEM掃描電鏡，即掃描電子顯微鏡，作為一種強(qiáng)大的微觀分析工具，在材料科學(xué)領(lǐng)域具有廣泛的應(yīng)用。其高分辨率、強(qiáng)景深和能譜分析功能，使其成為研究材料微觀結(jié)構(gòu)和性能的工具。在材料科學(xué)研究中，SEM掃描電鏡可用于觀察材料的表面形貌、晶體結(jié)構(gòu)、晶粒大小和形狀等。通過SEM的高分辨率圖像，研究人員能夠清晰地看到材料表面的微小結(jié)構(gòu)，如紋理、缺陷和裂紋等，這對(duì)于理解材料的力學(xué)性能和化學(xué)性能至關(guān)重要。此外，SEM掃描電鏡還可以進(jìn)行能譜分析，幫助識(shí)別材料的化學(xué)成分和分布情況。這對(duì)于研究材料的成分、...

2024-11-7
ROHS金屬成分分析儀在電子產(chǎn)品質(zhì)量控制中的關(guān)鍵角色

在當(dāng)今科技日新月異的時(shí)代，電子產(chǎn)品已成為我們?nèi)粘Ｉ钪械囊徊糠帧Ｈ欢S著電子產(chǎn)品使用的普及，其安全性和環(huán)保性也日益受到關(guān)注。ROHS（限制使用某些有害物質(zhì)）指令的出臺(tái)，正是為了規(guī)范電子產(chǎn)品中有害物質(zhì)的含量，確保消費(fèi)者的健康和安全。在這一背景下，ROHS金屬成分分析儀在電子產(chǎn)品質(zhì)量控制中扮演著至關(guān)重要的角色。ROHS金屬成分分析儀是一種專門用于檢測電子產(chǎn)品中金屬成分及其有害物質(zhì)含量的高精度儀器。它能夠快速、準(zhǔn)確地分析出電子產(chǎn)品中鉛、汞、鎘、六價(jià)鉻、多溴聯(lián)苯和多溴二苯醚等有害物...

2024-10-21
SEM掃描電鏡技術(shù)：原理、優(yōu)勢與應(yīng)用

SEM掃描電鏡技術(shù)是一種利用聚焦電子束掃描樣品表面，通過檢測電子與樣品相互作用產(chǎn)生的信號(hào)來獲取樣品表面形貌和成分信息的高分辨率顯微鏡技術(shù)。其工作原理類似于在暗室中使用手電筒掃描物體，只不過SEM使用電子束代替手電筒，電子探測器代替眼睛，而觀察屏幕和照相機(jī)則作為圖像的存儲(chǔ)器。當(dāng)電子束與樣品相互作用時(shí)，會(huì)產(chǎn)生二次電子、背散射電子等信號(hào)，這些信號(hào)被探測器捕獲并放大，最終在顯示器上形成與樣品表面特征相對(duì)應(yīng)的畫面。SEM掃描電鏡具有許多優(yōu)勢。首先，其分辨率，通常可達(dá)納米級(jí)別，能夠觀察到...

2024-10-14
科研與生產(chǎn)的雙重保障：截面拋光儀實(shí)現(xiàn)高精度截面制備與表面質(zhì)量控制

在科研探索與工業(yè)生產(chǎn)中，高精度截面制備與表面質(zhì)量控制是確保實(shí)驗(yàn)數(shù)據(jù)準(zhǔn)確性、提升產(chǎn)品性能與可靠性的關(guān)鍵環(huán)節(jié)。截面拋光儀，作為這一領(lǐng)域的先進(jìn)設(shè)備，以其優(yōu)的性能和廣泛的應(yīng)用范圍，為科研與生產(chǎn)提供了雙重保障。截面拋光儀通過精密的機(jī)械結(jié)構(gòu)與先進(jìn)的拋光技術(shù)，能夠?qū)崿F(xiàn)對(duì)樣品截面的高精度制備。無論是硬質(zhì)材料如金屬、陶瓷，還是軟質(zhì)材料如聚合物、生物組織，截面拋光儀都能以極低的損傷率完成截面的平整化處理，使得截面表面達(dá)到接近鏡面的光潔度。這種高精度截面制備能力，為科研人員提供了清晰、準(zhǔn)確的微觀結(jié)...

2024-9-19
掃描電鏡(SEM)技術(shù)深度解析：從原理到應(yīng)用

掃描電鏡（SEM）作為現(xiàn)代材料分析的重要工具，其技術(shù)深度和應(yīng)用廣度令人矚目。從基本原理出發(fā)，SEM利用聚焦的電子束在樣品表面進(jìn)行光柵狀掃描，通過檢測電子與樣品相互作用產(chǎn)生的二次電子、背散射電子等信號(hào)，來觀察和分析樣品表面的形貌、結(jié)構(gòu)和成分。在原理層面，SEM通過電子槍發(fā)射的電子束，在加速電壓的作用下，經(jīng)過電磁透鏡聚焦后，以極細(xì)的束斑在樣品表面進(jìn)行掃描。這一過程中，電子束與樣品表面相互作用，激發(fā)出各種物理信號(hào)，其中二次電子對(duì)樣品表面形貌極為敏感，是SEM成像的主要信號(hào)來源。背散...

2024-9-11