JEM-F200 場發射透射電子顯微鏡以節能環保、減排低碳為理念開發的JEM-F200場發射透射電子顯微鏡，不僅提高了空間分辨率和分析性能，還采用了新的操作系統可滿足多種使用途徑，易用性強，外觀設計精煉，能為不同層次的用戶提供新奇的操作體驗。

JEM-1000 超高壓透射電鏡由于超高壓透射電子顯微鏡的加速電壓很高電子波長很短，即使增大物鏡極靴之間的間隙，也能獲得高分辨率的圖像。此外，電子束具有很強的穿透能力，即使厚樣品也能觀察到清晰的圖像，這是超高壓透射電子顯微鏡的優點。

JEM-2100Plus 透射電子顯微鏡，不僅擁有信譽的JEM-2100 的電子光學系統，還增加了最新的控制系統，大幅提高了可操作性。 多功能電子顯微鏡JEM-2100Plus性能*，操作方便，簡明易懂，在材料、醫學、生物學等多個研究領域提供優異的解決方案。

EM-05500TGP TEM斷層掃描系統采用算法的軟件，實現了從獲取連續傾斜圖像到三維重構整個過程的自動化。

JED-2300T 能譜儀是以“圖像觀察和分析”為基本理念的TEM/EDS集成系統。在分析數據過程中，自動采集電鏡主機的倍率、加速電壓等參數，進行數據管理。