SEM掃描電鏡

　　 NEW簡(jiǎn)單SEM

　　SEM掃描電鏡只需選擇目標(biāo)視野

　　“簡(jiǎn)單SEM"支持日常工作

　　樣品：電子元件

　　加速電壓：15 kV，放大倍數(shù)：×50（上部）×1,000（下部），信號(hào)：BE

　　JSM-IT510 InTouchScope™SEM掃描電鏡樣品交換導(dǎo)航

　　從樣品交換引導(dǎo)至自動(dòng)觀(guān)察安全簡(jiǎn)單！

　　1.按照導(dǎo)航指南設(shè)置樣品

測(cè)量樣品高度

　　2. 準(zhǔn)備抽真空觀(guān)察

　　*1樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)（SNS）是選配件

　　*2大區(qū)域樣品臺(tái)導(dǎo)航系統(tǒng)（SNSLS）是選配件

　　*3樣品室相機(jī)（CS）是選配件

　　3.自動(dòng)開(kāi)始觀(guān)察

　　真空完成后自動(dòng)成像

　　水圖片1.jpg Zeromag

　　JSM-IT510 InTouchScope™掃描電子顯微鏡輕松實(shí)現(xiàn)光學(xué)圖像與SEM圖像之間的無(wú)縫轉(zhuǎn)換

　　Zeromag功能簡(jiǎn)化了導(dǎo)航，提供從光學(xué)圖像到SEM圖像的無(wú)縫過(guò)渡。

　　SEM、光學(xué)圖像和樣品臺(tái)示意圖全部鏈接在一起，以獲得分析位置的全局視圖。

　　樣品：菊石化石加速電壓：7kV信號(hào)：BE

　　水圖片1.jpg實(shí)時(shí)分析/實(shí)時(shí)引導(dǎo)圖*2

　　1.SEM觀(guān)察的同時(shí)掌握該區(qū)域的元素組成

　　實(shí)時(shí)分析是一項(xiàng)在圖像觀(guān)察期間實(shí)時(shí)顯示EDS光譜或元素圖的功能。此功能支持搜索目標(biāo)元素并提供警示。

　　2.簡(jiǎn)單分析

　　最多點(diǎn)擊3次即可開(kāi)始EDS分析

　　水圖片1.jpg多種高級(jí)選項(xiàng)

　　1.NEW低真空混合二次電子探測(cè)器（LHSED）*

　　該新型探測(cè)器可以收集電子和光子信號(hào)，并提供具有高信噪比和增強(qiáng)形貌信息的圖像

　　2.NEW實(shí)時(shí)3D*

　　新多向分割BE探測(cè)器*獲得的圖像可以顯示為實(shí)時(shí)3D圖像。

　　即使樣品具有細(xì)微的表面起伏，實(shí)時(shí)3D也可以直觀(guān)的將其清晰的表現(xiàn)出來(lái)，并獲取其深度信息。

　　樣品：螺釘加速電壓：15kV放大倍數(shù)：x100信號(hào)：BE

　　3.蒙太奇

　　蒙太奇功能可以自動(dòng)獲取多個(gè)小視野的圖像并將這些圖像拼接成一張更大視野的圖像。

　　樣品：菊石化石

　　加速電壓：15kV放大倍數(shù)：x150信號(hào)：BE視野數(shù)：13 x 13。

　　4.顯示信號(hào)深度

　　此功能實(shí)時(shí)顯示被測(cè)樣品的分析深度（近似數(shù)值），對(duì)元素分析非常有用。