JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀

JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀在鋼鐵、汽車、電子零件和電池材料等各種工業(yè)領域，作為研究開發(fā)和的分析工具被廣泛使用，其用途越來越廣。此外，在學術領域 ，地球空間科學、材料科學領域也在廣泛使用，礦物等資源能源研究、各種新型材料研究等，期待在各種各樣前沿研究中做出貢獻。與此相應，在保持高局部微量元素分析性能的同時，追求每個人都能簡單快速地使用好儀器。JXA-iHP200F能更加有效地進行觀察分析操作，是更先進的一體化集成場發(fā)射EPMA。

* EPMA是Electron Probe Microanalyzer簡稱

JXA-iHP200F 場發(fā)射電子探針顯微分析儀

◇  [Setting]                                                     

自動定位，準確安裝樣品臺！迅速找到想觀察的點！

進樣和獲取樣品臺導航像一鍵完成。從導航像能夠分析區(qū)域。

◇ [Analysis]                                              

充分的自動功能，誰都可以拍到高級的SEM像

繁瑣的設定也能對應，EPMA立馬進行元素分析

光學顯微鏡的自動聚焦功能與配備高精度/高速化新系統(tǒng)的SEM自動功能相結合，任誰都可以拍到高級的SEM像。

【live Analysis】

通過【live Analysis】能夠在觀察中進行篩選分析。初學者也能操作的【簡單的EPMA】。

用【EPMA-XRF integration】在XRF數(shù)據(jù)的基礎上能夠進行EPMA的條件設定。用【WD/ED integration】能夠縮短分析時間。SEM、EDS、XRF、WDS、光學像的集成一體化提高了儀器的操作性能。

通過WD/ED integration，分析時間縮短的例子

integration：用這些儀器推定的元素在一體化EPMA上可以一鍵設定分光晶體的組合

◇ [Self Maintenance]                    

內置18種類校正樣品，有效進行校正

配置【分光器校正功能】減輕了定期進行分光器校正的作業(yè)而且也避免了校正樣品設定時的人為失誤；利用夜間對儀器進行校正，提高了工作效率。

按照【維護通知功能】，在必要時期對儀器進行自我維護，保持設備最佳狀態(tài)。

維護通知功能【客戶支持工具】

◇ 標配場發(fā)射電子槍

能夠在高倍率下獲得高空間分辨率的SEM像和分析結果。在大電流下保持長時間穩(wěn)定的熱電子槍在短時間內分析微量元素的時候、整夜運行分析大量樣品的時候顯示出它的威力。