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產(chǎn)品中心透射電子顯微鏡JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡
產(chǎn)品簡介
JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡是GRAND ARMTM的第二代產(chǎn)品，該設(shè)備在性能上有了進(jìn)一步的提高，無論采用怎樣的加速電壓都能獲得超高空間分辨率圖像和高靈敏度的元素分析。
| 品牌 | 其他品牌 |
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JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡。實(shí)現(xiàn)在寬范圍加速電壓內(nèi)，超高空間分辨率下高靈敏度分析。
JEM-ARM300F2 原子分辨率分析型電子顯微鏡主要特點(diǎn)
1. FHP2 新型物鏡極靴
保證超高空間分辨率觀察的同時，優(yōu)化FHP物鏡極靴的形狀以滿足大尺寸雙SDDs（158mm2）的需求，x射線有效檢測效率提高了兩倍以上，實(shí)現(xiàn)亞埃級分辨率的EDS元素面分析。
2. 新型屏蔽體
TEM柱采用箱式外殼，可減少溫度、氣流、噪聲等環(huán)境變化的影響，從而提高顯微鏡的穩(wěn)定性。
3. ETA 校正器 & JEOL COSMO™
快速準(zhǔn)確的像差校正
4. 穩(wěn)定性提高
CFEG采用小型SIP泵，快速提高真空度，提高了發(fā)射體附近的真空、發(fā)射電流、探針電流的穩(wěn)定性。其他改進(jìn)也提高了顯微鏡的穩(wěn)定性和對各種干擾的抵抗力。
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