掃描電鏡應用范圍不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需要重復執行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 JSM-IT510 新增的“簡單 SEM”功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復操作交給它”，從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。

JSM-IT510 InTouchScope™ 掃描電鏡不僅是開展科研工作所不可少的工具，對于需要品控的制造工廠也是*。 在這些場景中，用戶需要重復執行相同的觀察操作，因此快速完成這些操作有助于提高工作效率。 JSM-IT510 新增的“簡單 SEM”功能，用戶可將 SEM 觀察所需的“手動重復操作交給它”，從而更高效、更輕松地完成 SEM 觀察。

JED-2300/2300F 能譜儀是以“圖像觀察和分析“ 為基本理念的TEM/EDS集成系統。通過與SEM的馬達驅動樣品臺聯動使用，可以進行大范圍的觀察和分析。 EDS通過檢測被電子束激發出的樣品特征X射線，確定樣品含有的元素及成分比，可以進行微區的點分析、線分析及面分析。

JSM-IT200 InTouchScope™ 掃描電子顯微鏡 是一款更簡潔、更易于使用且性價比高的掃描電子顯微鏡。

JCM-7000 JEOL臺式掃描電子顯微鏡 NeoScope™ 是以“誰都可以操作的SEM/EDS“為理念的臺式掃描電子顯微鏡， 標配Zeromag、Live analysis、 Live 3D功能。 新設置了中文操作界面！(選配件)