日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析

JSX-1000S型X射線熒光光譜儀采用觸控屏操作、提供更加簡便迅速的元素分析。具備常規定性、定量分析（FP法?檢量線法）、RoHS元素篩選功能等。日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析豐富的硬件/軟件選配件、還能進行更廣泛的分析。

  主要特點                                                                                                                                                  

1.   操作簡便  

* 日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析 只需安裝樣品，和觸摸屏幕。

*  觸摸操作還可以進行分析結果與譜圖的顯示切換，如同使用平板電腦和智能手機一般簡單（利用鍵盤、鼠標也能操作）。

*  GUI界面簡明易懂，操作直觀。

2.   高靈敏度&高通量  

JEOL 新開發的SDD( 硅漂移檢測器) 和新設計的光學系統及可以支持整個能量范圍的濾波器使得高靈敏度的分析成為可能。安裝樣品室真空排氣單元( 選配項) 對輕元素可以提高檢測靈敏度。

整個能量范圍內的高靈敏度分析

使用濾波器（最多9種*） 和樣品室真空排氣單元能夠在整個能量范圍內進行高靈敏度的分析。

* Cl、Cu、Mo、Sb 為選配項

微量元素檢測實例（10ppm以下）

3.   提供解決方案  

解決方案應用軟件能根據預先登錄的菜譜自動執行所希望的測試分析。只需從解決方案應用軟件的列表中選擇目標解決方案的圖標，就能輕松獲得分析結果，可為各種行業提供簡化的分析。

新開發的智能FP（基本參數法）法，不需要準備標樣，并且能自動進行殘留成分和厚度的校正， 獲得高度準確的定量結果。
（殘留成分和厚度校正功能只支持有機物樣品）

• （mass%）

• 主要參數

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• 檢測元素范圍	Mg～U
  	F～U（選配）
  X射線發生裝置	5～50　kV ,  1mA
  靶材	Rh
  一次濾波器　最多9種　自動交換	標準：OPEN, ND, Cr, Pb, Cd
  	選配：Cl, Cu, Mo, Sb
  準直器3種　自動交換	0.9mm, 2mm, 9mm
  檢測器	硅漂移檢測器（SDD）
  樣品室尺寸	300mmφ×80mmH
  樣品室氣氛	大氣　/　真空(選配）
  樣品室觀察機構	彩色攝像機
  操作用電腦	Windows ®　觸控屏 臺式電腦
  分析軟件（標準）	定性分析（自動定性、KLM標記、和峰顯示、譜圖檢索） 定量分析（塊狀FP法、檢量線法） RoHS分析解決方案（Cd, Pb,Cr, Br, Hg) 簡易分析解決方案 報告制作軟件
  分析軟件（選配）	薄膜FP法分析軟件 關聯濾波器FP法分析軟件
  日常檢查軟件（標準）	管球升壓、能量校正、強度校正

• Windows ® 為美國微軟公司在美國或其它國家的注冊商標或商標。

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• 日本電子ROHSX射線熒光分析儀金屬成分分析主要附件：

• 1.  樣品室真空排氣單元

• 2.  多樣品自動交換單元

• 3.  濾波器組

• 4.  濾膜FP 法分析軟件

• 5.  薄膜FP 法分析軟件

• 6.  和峰消除軟件

• 7.  鎳鍍層篩選解決方案

• 8.  錫鍍層篩選解決方案

• 9.  氯元素篩選解決方案