熱場發射掃描電子顯微鏡

///  超越所見，探索未知 ///

JSM-IT710HR  降低荷電:  樣品提供：東京農工大學 工學部生命工學科  朝倉哲郎先生

JSM-IT710HR  晶體結構分析:  樣品提供：物質材料研究所(NIMS)  津﨑 兼彰先生

  新功能                                                                                                                              

1. 自動觀察：Simple SEM/EDS

   Simple SEM 通過一次設定多個條件來實現自動測試，提高了日常工作效率。

2. Live 3D: 實時3D

   在低倍率下可以觀察3D活圖像。

3. JSM-IT710HR  熱場發射掃描電子顯微鏡 低真空混合二次電子檢測器（LHSED）

   LHSED是新型低真空檢測器，能夠在光發射信息和形貌像之間切換觀察。

4. 肖特基場發射電子槍的穩定性提高了4倍多

> 自動電子束調整

   JSM-IT7010HR從合軸到像散、對焦可以自動調整，不需繁瑣的手動。

> 二次電子檢測系統

    左側樣品：孔雀羽毛,  右側樣品：纖維素微纖維

> 高分辨率和大束流

    JSM-IT710HR的肖特基場發射電子槍和聚光鏡一體化集成，在生成大束流的同時保持小束斑，能夠進行高分辨觀察和分析。

> 背散射電子檢測系統

    新型的多分割背散射檢測器可以同時從4個方向采集背散射信息，生成簡單的3D像并實時顯示。

5. 所有分析都從Zeromag開始

  使用Zeromag的光學像，視野搜尋能力提高；SEM像與光學像聯動，觀察、分析和自動測試簡單化。

6. JSM-IT710HR  熱場發射掃描電子顯微鏡 EDS一體化集成

  JEOL除了SEM，還自主生產和銷售EDS。利用這一優勢，可以集中操作和管理SEM的觀察畫面和EDS分析結果，操作性和數據管理能力得到了提高。

7.   熱場發射掃描電子顯微鏡相分析

    JEOL的EDS增加了相分析功能，可以對每種物質（化合物/單體）進行面分布分析。

樣品：精密切削刀片的截面

相分析表明，Co、Cu和Sn富區組分存在差異。

Co area: 68.15%

CuSn (CuRich) area: 16.25%

CuSn (SnRich) area: 14.54%