場發射掃描電子顯微鏡

JSM-IT810場發射掃描電子顯微鏡利用自動化技術，提高了從儀器調試到觀測分析的操作效率！

JSM-IT810場發射掃描電子顯微鏡系列FE-SEM結合多功能性和高空間分辨率，實現了自動化操作。內置無需編碼的成像和EDS分析自動化功能，使工作流程更加流暢高效。 此外，還新增了一些功能，確保所有SEM用戶獲得高質量數據和更好的用戶體驗。 這些功能包括SEM自動調整包、梯形校正功能（在EBSD測試中非常有用）、以及用于觀察表面形貌的Live 3D重構功能。

FE-SEM的操作從沒有像JSM-IT810系列這么簡單。

    主要特點                                                                                                                                      

1.  自動觀察分析功能“Neo Action"

   智能操作，自動執行SEM觀測和能譜分析(EDS)

     Sample: Chondrules in chondrite Julesberg (L3.6)，Landing Voltage: 5 kV

2.  自動校準功能“SEM自動調整包"

   用標樣來進行自動倍率調整、電子束對中和EDS能量校準。定期檢查確保設備處于最佳狀態。

3.  實時3D功能

5段半導體型探測器可以選擇背散射電子信號。從外側4段獲取的二維圖像可用于三維圖像重構。

全新的Live-3D功能可實時測量和檢查樣品的拓撲結構。

4.  一體化EDS

  一體化EDS集成消除了SEM觀察與EDS元素分析之間的障礙。觀察屏幕上有點、面、線、和MAP等各種分析模式，可以立刻進行分析。